多项选择题

在离子注入完成后,检验到硅片表面有颗粒污染严重的情况,该情况引起的主要问题有()

A.在局部阻挡掺杂
B.对器件结构造成连接或短路
C.对微小器件结构造成沟型损伤
D.整片硅片报废