单项选择题

CZ法拉不出高阻单晶硅锭的主要原因是()

A.气相杂质融入熔体再进入了硅锭
B.坩埚材料分解出的氧会进入硅锭
C.多晶硅原料纯度不够高
D.干锅清洗不干净造成

<上一题 目录 下一题>
热门 试题

多项选择题
IC采用铝互连系统时,下列哪种方法可以避免Al-Si的尖楔现象()

A.在淀积的铝膜中掺入约1%Si
B.在淀积的铝膜中掺入约1%Cu
C.在铝膜表面覆盖Si3N4
D.在淀积铝之前先淀积一薄层TiN薄膜

判断题
在SiO2 Si刻蚀过程中等离子体对硅的刻蚀速率必须控制在非常低的程度,否则SiO2被清除的同时硅也大量被侵蚀。
相关试题
  • 碳纳米管场效应晶体管是未来晶体管发展趋势...
  • CE定律发展面临的问题包括()。
  • IC集成度和性能得以不断提高的理论基础是(...
  • 三光检查主要是检查芯片粘贴和引线焊接之后...
  • 芯片粘接的工艺过程包括()。