问答题

论述题 从寄生电阻和电容、电迁移两方面说明后道工艺中(Back-End-Of-Line,BEOL)采用铜(Cu)互连和低介电常数(low-k)材料的必要性。

【参考答案】

寄生电阻和寄生电容造成的延迟。电子在导电过程中会撞击导体中的离子,将动量转移给离子从而推动离子发生缓慢移动。该现象称为电......

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