问答题

计算题 一块电阻率为3Ω·cm的N-Si样品,空穴的寿命为τp=5μs,在其平面型的表面处有稳定的空穴注入,过甚空穴浓度为Δp(0)=1014cm-3,计算从这个表面扩散进入半导体内部的空穴电流密度。在离表面多远处过剩空穴浓度衰减到1012cm-3

【参考答案】