单项选择题

装片后进行外观检查时,如图不良现象为()。

A.芯片倾斜
B.框架变形
C.焊料氧化
D.框架镀银区域氧化

<上一题 目录 下一题>
热门 试题

单项选择题
芯片粘接的装料过程中,哪一步是需要参照键合图的?()

A.装引线框架
B.装引线框架盒
C.安装银浆
D.装晶圆花篮

单项选择题
装片后进行外观检查时,如图视角中的不良现象是()。

A.支架生锈、沾污
B.缺(崩)角
C.碎片
D.银胶胶量不足

相关试题
  • 150℃下真空焙烤16~96h能有效去除...
  • 氧化铍的热导率接近于金属铝,且具有最好塑...
  • 填银的粘接剂过多的流出能立刻短路或随着时...
  • 环氧粘结剂固化时,易有环氧渗出造成基片污...
  • 环氧树脂粘片材料的粘接强度随着温度的升高...