单项选择题

半导体产品的烤机试验，将产品暴露在高温下，来强制缺陷发生，这种可靠性试验属于( )

A．可靠性测定试验
B．可靠性鉴定试验
C．可靠性验收实验
D．环境应力筛选试验
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单项选择题
用来“表示质量特性波动与其潜在原因关系”的图表是( )
A．流程图
B．排列图
C．关系图
D．石川图
单项选择题
对照规范要求进行分析时，对于直方图出现能力不足型的情况，应采取的工序调整措施为( )
A．调整分布中心，使其与公差中心重合
B．减小标准偏差或放宽过严的公差范围
C．减小检验频次
D．维持现有控制和监督办法
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