单项选择题
A.缺陷深度B.信号脉冲的长度C.探头中心间距D.晶片尺寸
A.严重影响缺陷高度的测量精度B.严重影响V形坡口根部缺陷的检出C.只在非平行扫查中存在D.只在平行扫查中存在
A.随探头折射角减小而减小，随底面焊缝宽度的增大而增大B.随探头折射角减小而增大，随底面焊缝宽度增大而增大C.随探头折射角减小而减小，随探头脉冲宽度减小而减小D.随探头折射角减小而增大，随探头脉冲宽度减小而增大