数字集成电路的逻辑功能测试可分为（）和（）两个步骤。

集成运放是个高增益的（），由于晶体管的（）和（）等的影响，容易引起高频自激振荡。 点击查看答案

程序设计一般由三种方法：（）、（）和（）。 点击查看答案