时序逻辑电路测试通常用（）来进行，当（）都接适当的脉冲信号，则称为“全动态测试”。

数字集成电路的逻辑功能测试可分为（）和（）两个步骤。 点击查看答案

集成运放是个高增益的（），由于晶体管的（）和（）等的影响，容易引起高频自激振荡。 点击查看答案