单项选择题
A.检测面粗糙度B.检测面形状C.被检工件晶粒尺寸D.耦合剂声阻抗
A.工件和试块表面光洁度不同B.用平试块校准，检测曲面工件C.在检测和缺陷定量时，材质衰减不同的D.以上全部
A.试块与工件的材质B.仪器测量系统C.试块与工件的表面耦合状态D.试块与工件中的反射体