单项选择题
A.工件和试块表面光洁度不同B.用平试块校准,检测曲面工件C.在检测和缺陷定量时,材质衰减不同的D.以上全部
A.试块与工件的材质B.仪器测量系统C.试块与工件的表面耦合状态D.试块与工件中的反射体
A.试块调整法B.工件底波调整法C.A和B都是D.以上都不是