单项选择题
A.采用晶片直径为φ20mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径应在76mm~126mm 之间。B.采用晶片直径为φ14mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径应在76mm~126mm 之间。C.采用晶片直径为φ18mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径可为100mm。D.采用晶片直径为φ22mm 的探头对环缝检测,对比试块的曲率半径可为84mm。
A.扫查灵敏度为φ3-6dBB.用有机玻璃作斜楔时,斜探头的入射角大致在28° ~57° 之间C.扫查灵敏度为φ2-6dBD.对厚度小于或等于600mm 锻件检测时,不考虑材质衰减
A.若缺陷回波幅度大于或等于相应对比试块人工缺陷回波基准灵敏度距离-波幅曲线,则判为不合格B.若缺陷回波幅度等于基准灵敏度距离-波幅曲线,则判为不合格C.对纵向缺陷和横向缺陷检测时,扫查灵敏度均应比基准灵敏度提高6dBD.若缺陷回波幅度高于基准灵敏度距离-波幅曲线,则判为不合格