计算题

制造半导体元件时，常常要精确测定硅片上二氧化硅薄膜的厚度，这时可把二氧化硅薄膜的一部分腐蚀掉，使其形成劈尖，利用等厚条纹测出其厚度。已知Si的折射率为3.42，SiO₂的折射率为1.5，入射光波长为589.3nm，观察到7条暗纹（如图所示）。问SiO₂薄膜的厚度h是多少？（提示：最后一条暗条纹下的高度正是SiO₂薄膜的厚度）

量子力学中的波函数描写物质微观状态的概率分布规律。 点击查看答案

按量子力学的观点，如果一个粒子的位置是确定的，则其动量也是确定的。 点击查看答案