对于接触法只须将能使缺陷落在其远场区内的纵波直探头在试件表面移动，即可获得缺陷的（）所在的位置，从而定出缺陷的平面位置。

对于长条形试件，则常沿（）作平行纵轴的直线式扫查。

A.长度方向
B.周长方向
C.圆周方向

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对于圆盘形试件，常沿（）在圆面上进行扫查。

A.周长方向
B.长度方向
C.圆周方向

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