单项选择题
A.探头K值变化B.探头频率变化C.探头晶片材料的居里点变化D.探头的参数不会有变化
A.相同方向的同类缺陷,相同检测条件下,反射波越高,说明缺陷越大。B.波束入射到表面光滑缺陷的回波总是比表面粗糙缺陷的回波高。C.声束倾斜入射到缺陷表面时,探头可能接收不到缺陷回波。D.缺陷回波高低不是缺陷判定大小的唯一依据。
A.孤立气孔的回波比较尖锐,探头稍微平行移动,缺陷回波很快降低至消失B.未焊透的回波随探头平移时波高和位置变化比较小C.裂纹的回波随探头平移时位置和波高一般都有比较明显的变化D.回波低的缺陷不是大缺陷