垂直法探伤时，对要求不太高的工件常采用局部法进行扫查，局部法扫查一般分为（）。

在横波探伤中，探头K值对探伤（）有较大的影响。

A.灵敏度
B.超声波的强弱
C.声束轴线的方向
D.一次波的声程
E.二次波的探测范围

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探伤中探头晶片尺寸增加，相应的（）对探伤有利。

A.半扩散角减小
B.近场区长度增加
C.波束指向性好
D.半扩散角增大
E.超声波能量集中

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