从规则反射体声压计算公式可知，返回晶片的声压大小与入射声压和反射体的（）有关。

磁粉探伤的灵敏度高低受试件（）的影响。

A.表面光洁度
B.缺陷形状
C.缺陷取向
D.磁化方法
E.磁化范围

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射线探伤通过图像的观察分析，最终确定物体缺陷的（）

A.种类
B.形状
C.大小
D.分布情况
E.材质

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