单项选择题
A.纵波斜探头 B.横波斜探头 C.表面波探头 D.纵波直探头
A.平面性缺陷波高与缺陷面积成正比 B.球形缺陷反射波高与缺陷直径成正比 C.缺陷倾斜度变小,缺陷检出率提高 D.夹杂类缺陷可能会因产生透射声波而无法检测到
A.K值减小 B.K值增大 C.对K值无影响,对前沿尺寸影响较大 D.对入射声波频率影响较大