波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体对温度的变化较敏感，温度变化会引起晶体面间距值的变化，导致谱线的位移。

波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。

A.闪烁
B.半导体
C.流气式
D.光电倍增管

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能量色散X射线荧光分析仪从多道分析器得到的谱带必须经过谱处理，其中包括（）等，才能得到准确的谱峰和强度。

A.谱平滑
B.背景拟合扣除
C.重叠峰的拟合
D.分离

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