某一量具工作面的平面度，若在白光情况下用平晶以技术光波干涉法检定时，受检工作面的平面度一般不大于（）

以技术光波干涉法检定深度千分尺基座工作面的平面度所用的2级平晶，其工作面的平面度不大于（）

A.0.03um
B.0.05um
C.0.10um

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游标高度尺的用途，除测量高度外，还用于划线，那么划线用的量爪，其刃口厚度为（）

A.0.15±0.05mm
B.0.10±0.05mm
C.0.20±0.05mm

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