计算题 用MoK_αX射线（λ=0.0712nm）测试CaF₂晶体的晶面距，，XRD谱上出现若干个峰，其2θ角分别为12.96o、26.12o、39.64o、53.76o、68.82o。求CaF₂晶体的晶面距。

利用荧光法测试喹啉试液，激发光波长350nm，于450nm处测量荧光强度，数据列表如下： 喹啉试液制备过程如下：喹啉水试样1mL用H2SO4稀释至50mL后测试。用工作曲线法计算喹啉试样的浓度（mg L）。 点击查看答案

利用X荧光法测试组分A，样品中有干扰组分B。纯B在波长λ1和λ2下的平均强度IB1=28.5，IB2=261.4。样品在λ1和λ2下的平均强度Is1=296.3和Is2=160.8，已知组分A在λ2处无吸收，含量在λ1下符合线性关系I=2.31×104×CA+5.24。求样品中A的浓度CA。 点击查看答案