多项选择题

X射线荧光光谱分析标准化的方法有（）校正法。

A.一点
B.工作曲线
C.两点
D.标准加入

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多项选择题
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。

A.均匀性
B.粒度效应
C.辐射
D.吸收-增强效应
单项选择题
在X射线荧光分析中，重元素谱线复杂而且较为接近，所以要选择（）准直器以提高分辨率。

A.细
B.粗
C.超粗
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