着色探伤、磁粉探伤、涡流探伤属于（）探伤中的三种。

扫描电子显微镜主要用于表面形貌的观察，在失效分析工作中具有非常重要的作用。它的分辨率高，可达（）nm。

A.0.1～0.2nm
B.0.5～0.8nm
C.3～4nm
D.10～20nm

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光学显微镜由于受照明光线（可见光）波长的限制，无法分辩出小于（）的图像及显微结构。

A.0.1μm
B.0.2μm
C.0.5μm
D.1.0μm

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