X荧光分析基体的影响可分两大类，一类是（）引起的，另一类是（），表面结构等造成的。

X射线荧光仪样品室抽真空，其目的是为了减少空气对（）的吸收。 点击查看答案

X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用（）和（）来接受被测元素特征光谱信号的。 点击查看答案