相同探头，当缺陷直径一定时，缺陷波高随距离的变化程度较快的是（）

试件中实际缺陷的形状多种多样，通常把缺陷的形状简化为（）

A.圆片形
B.球形
C.圆柱形
D.点状形
E.条形

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超声波探伤为了减少侧壁反射的影响，应选用（）探头。

A.晶片直径大
B.频率低
C.指向性好
D.晶片直径小
E.频率高

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