分析无显不良品时，镜检看到IC导电粒子浅，那么可以判断一定是IC导电粒子浅导致的无显。

首检时参数设定可以按照工艺卡中的下限值来设定。 点击查看答案

我想到一个好的点子可以改善制程中的不良，可以马上将这个点子运用到正在投产的产品上。 点击查看答案