JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。

JB T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。 点击查看答案

荧光磁粉检测时，磁痕的评定应在暗室或暗处进行，暗室或暗处可见光照度应不小于20Lx。 点击查看答案