用QS1型西林电桥测量小电容试品的tgδ时，如连接试品的C_x引线过长，则应从测得值中减去引线引入的误差值，此误差值为（）。（其中C₀为C_x引线增长部分的电容值；R₃为测试时桥臂R₃的读数；R₄为桥臂R₄的值）。

A.是非接触测量、操作安全、不干扰设备运行
B.不受电磁场干扰
C.不比蜡试温度准确
D.对高架构设备测量方便省力

A.选相倒相法：正、反相测得值的差别较大，有时可达±50%及以上
B.外加反干扰电源补偿法：补偿电源与干扰信号间的相位有不确定性
C.变频测量方法：测量的稳定性、重复性及准确性较差
D.“过零比较”检测方法：测量结果的分散性稍大