案例分析题试为下述分析工作选择你认为恰当的（一种或几种）分析方法 某半导体的表面能带结构测定。

【参考答案】

紫外光电子能谱（UPS），或X射线光电子能谱（XPS），或紫外可见吸收光谱（UV-VIS），最好是紫外光电子能谱（UPS......

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